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Prüfer: Wellmann, Peter (Prüfernummer: 100546)
62511 Semiconductor Fundamentals, Characterization, Materials & Processing (10 ECTS, Wiederholungsprüfung vom SS 2023)
UnivIS-Modul:
Semiconductor Fundamentals, Characterization, Materials & Processing (SF- Ch- M&P)
Bezeichnung:
Semiconductor Fundamentals, Characterization, Materials & Processing
Prüfungstyp:
mündliche Prüfung
Lehrveranstaltungen:
Advanced Semiconductors Introduction: Fundamentals
Crystal Growth 1 - Fundamentals of Crystal Growth and Semiconductor Technology
Advanced Semiconductors Introduction: Characterization
Crystal Growth 1 - Wide Bandgap Semiconductors
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